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日本半导体MM测试仪日本半导体MM测试仪产品规格:
1200 C: D-CDM/F-CDM（）●1200 EL（ESD/闩锁测试机台）●1200 ELC（ESD/闩锁/CDM 测试机台）产品用途1200系列的4种功能：HBM、MM、闩锁和CDM在一个系统中 ，1350引脚对测试可用（使用专用DUT板在非电源引脚和电源引脚之间时）。本产品可进行器件级ESD测试，包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。
日本半导体MM测试仪产品详情:
*1 MM 标准 400V。可施加 2KV，但在高电压状态下持续试验会导致继电器劣化。
*2 需要示波器、电流探头、衰减器（20dB）。关于对应的产品，请另外商谈。
*3 CDM 波形保证范围为±2000V，空气放电时受到湿度、接触部的构造、污染等影响， 波形有可能会有很大变化。
*4 每个电源都具有闭锁检测功能和电源过压测试功能。
*5 测试范围由 Vsupply 而定。
*6 需使用热电缆和外部测试夹具。
*7 该系统使用的组件包括水银。请按照法律处理含有汞的组件。
https://www.chem17.com/st573720/product_37973122.html
http://www.tzelec.cn/SonList-2474394.html